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从3分钟到3秒 中兴通讯AI攻克芯片检测难题 提效60倍!

时间:2025年10月31日 13:06

在5G、AI、云计算高速发展的今天,一颗小小的芯片,承载着数字世界高效运行的基石。然而,在指甲盖大小的硅片内部,可能潜藏着肉眼看不见的“空洞缺陷”,这些微小的瑕疵可能导致整个系统失效。传统上,这类检测要靠经验丰富的工程师,3分钟一张图,效率低、误差高。如今,中兴通讯用AI把这一过程缩短到了3秒。

技术破局不止于快,更在于准

面对芯片封装和焊接过程产生的微小气泡等常见的空洞缺陷,中兴通讯打造出一套芯片空洞智能检测系统,这不是简单的图像识别,而是目标检测、图像分割与多模态大模型的深度融合,通过"视觉-语言"智能交互,让机器理解"芯片空洞"的深层特征定义,精准区分真实缺陷与标记纹路等干扰特征,是 AI视觉、工业质检与材料科学交叉领域的系统性突破。

这套系统的硬核实力,藏在每一组精准数据里:

0.5秒精准锁定芯片区域,自动剔除90%背景干扰;

99%识别灵敏度,微米级空洞也无所遁形;

创新应用多模态语义分析模型,能“看懂”图像;

3秒完成单图检测,效率提升60倍,支持批量并行处理。

从实验室到生产线,AI真正“落地”

AI技术的价值不在于炫技,而在于解决实际问题。中兴通讯将这套智能检测系统嵌入自研的材料检测平台,实现从图像上传、智能分析到结果输出的全流程自动化。材料实验人员只需一键上传X射线图像,系统便能自动完成检测、标注、分类,无需人工干预,检测结果客观稳定。

依托深度学习算法,这套系统具备极强的泛化能力。无论是复杂结构的芯片,还是不同厂商的工艺差异,系统都能快速适配,真正做到“一个模型,覆盖多种场景”。这意味着,它能直接落地生产线,让AI从技术概念变成提质增效工具。

不止于芯片,AI向“微观世界”进军

芯片空洞检测,只是中兴通讯AI赋能工业质检的一个缩影。

未来,中兴通讯将持续拓展AI在微观检测场景的应用边界:电镜分析、金相显微镜、材料结构识别等,打造一套可复用、可推广的智能检测平台,为半导体、新材料、先进制造等行业提供“AI+质检”的标准化解决方案。

从3分钟到3秒,从人工依赖到智能自主,这场效率革命的背后,是中兴通讯在AI视觉、深度学习、多模态理解、工业系统集成等领域的技术深耕,中兴通讯正用硬核创新重构 “中国智造” 的精度与速度,让 AI 成为高端制造的高效驱动力

(责任编辑:康玲华)

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